问题：

[单选题]集成电路的可测性设计DFT通常会需要在电路中增加方便测试、但与功能无关的额外模块。常用的可测性设计技术是 A. B. C.TbU答案窝(daanwo.com)-大学作业答案分享平台
A边界扫描测试技术TbU答案窝(daanwo.com)-大学作业答案分享平台
B内建自测试技术TbU答案窝(daanwo.com)-大学作业答案分享平台
C以上都是